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테스트 및 측정에서 낮은 반사 손실 해결: 높은 차단비 PM 서큘레이터로 광 경로 정확도 최적화

2026-03-28

테스트 및 측정에서 핵심 광학 통증 지점 (H2)

고밀도의 광학 검사, 측정 및 실험실 측정 시스템에서불충분한 반전 손실, 역반사 간섭, 낮은 소멸 비율 및 열악한 양극화 일관성정확성과 반복성을 떨어뜨리는 일반적인 문제입니다.

테스트 장비는 엄격한 광적 안정성을 요구합니다. 낮은 반환 손실은 종종 다음과 같습니다.

측정 소음 증가 및 데이터 신뢰성 감소
전면 광원 및 탐지기에 대한 간섭
테스트 결과의 변동을 일으키는 편광 불안정성
멀티 밴드 스위칭에서 일관성이 떨어집니다.

이 문제들은 테스트의 효율성을 낮추고 검증 및 R&D 결론의 신뢰성에 영향을 미칩니다.

높은 소멸 비율의 PM 순환기 (H2) 의 성능 기초

Gezhi Photonics는 TGG 기반 PM 순환기를 제공합니다.높은 환원 손실, 높은 소멸 비율, 높은 고립, 낮은 교차 음성테스트 및 측정 시스템에 대한 안정적인 광 경로 보호를 제공하기 위해.

핵심 사양 지원 (H3)

반사 손실: ≥45 dB, 반사 반사를 효과적으로 억제합니다
크로스 토크: ≥45 dB, 채널 간 신호 간 간섭을 줄여줍니다.
소멸 비율: ≥18 dB (B형) / ≥20 dB (F형)
최소 격리: ≥20~22 dB; 최고 격리 ≥25~26 dB
삽입 손실: ≤1,5~2,5 dB (파장 의존)
작동 파장: 532/635/680/780/808/850/930/980/1030/1053/1064/1150 nm
작동 온도: 0 ~ + 60 °C, 실험실 및 생산 환경에 적합

모든 매개 변수는 공식 데이터 시트에서 지원장기적인 일관성 및 신뢰성테스트 시스템에서

테스트 및 측정 시스템 (H2) 에 대한 최적화 값

광학 테스트 벤치, 파장 캘리브레이션, 전력 측정 및 섬유 장치 검증에서, 높은 소멸 비율 PM 순환기는 다음과 같은 기능을 제공합니다.

측정에 반사 간섭을 줄이기 위해 개선 된 반환 손실
더 나은 데이터 반복성을 위해 안정적인 양극화
더 높은 시스템 역학 범위를 위해 낮은 교차 음성 및 소음
보편적인 테스트 플랫폼에 대한 532~1150 nm의 넓은 커버리지
표준 70×28×26mm 패키지

이 장치는 CW 및 펄스 동작을 지원하며, 최대 20 W의 전력 처리, 산업 시험 및 과학적 측정 응용에 적합합니다.

시험 및 측정 장비 (H2) 선택 지침

테스트 정확성을 보장하기 위해 선택 중에 다음 사항을 고려하십시오.

회전 손실 ≥45 dB 및 교차 음향 ≥45 dB의 구성에 우선 순위를 부여합니다.
테스트 파장 기준으로 대역폭 (±5 nm 또는 ±10 nm) 을 확인합니다.
연결 버전은 0.3 dB IL를 추가하고, RL를 5 dB 감소시키고, ER를 2 dB 감소시킵니다.
펄스 테스트를 위해 피크 전력 및 펄스 에너지 사양을 제공

532nm/633nm 3 포트 포라라이제이션 유지 광학 순환기 TGG 섬유 증폭기 기반

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테스트 및 측정에서 낮은 반사 손실 해결: 높은 차단비 PM 서큘레이터로 광 경로 정확도 최적화

테스트 및 측정에서 핵심 광학 통증 지점 (H2)

테스트 장비는 엄격한 광적 안정성을 요구합니다. 낮은 반환 손실은 종종 다음과 같습니다.

측정 소음 증가 및 데이터 신뢰성 감소
전면 광원 및 탐지기에 대한 간섭
테스트 결과의 변동을 일으키는 편광 불안정성
멀티 밴드 스위칭에서 일관성이 떨어집니다.

이 문제들은 테스트의 효율성을 낮추고 검증 및 R&D 결론의 신뢰성에 영향을 미칩니다.

높은 소멸 비율의 PM 순환기 (H2) 의 성능 기초

핵심 사양 지원 (H3)

반사 손실: ≥45 dB, 반사 반사를 효과적으로 억제합니다
크로스 토크: ≥45 dB, 채널 간 신호 간 간섭을 줄여줍니다.
소멸 비율: ≥18 dB (B형) / ≥20 dB (F형)
최소 격리: ≥20~22 dB; 최고 격리 ≥25~26 dB
삽입 손실: ≤1,5~2,5 dB (파장 의존)
작동 파장: 532/635/680/780/808/850/930/980/1030/1053/1064/1150 nm
작동 온도: 0 ~ + 60 °C, 실험실 및 생산 환경에 적합

모든 매개 변수는 공식 데이터 시트에서 지원장기적인 일관성 및 신뢰성테스트 시스템에서

테스트 및 측정 시스템 (H2) 에 대한 최적화 값

광학 테스트 벤치, 파장 캘리브레이션, 전력 측정 및 섬유 장치 검증에서, 높은 소멸 비율 PM 순환기는 다음과 같은 기능을 제공합니다.

측정에 반사 간섭을 줄이기 위해 개선 된 반환 손실
더 나은 데이터 반복성을 위해 안정적인 양극화
더 높은 시스템 역학 범위를 위해 낮은 교차 음성 및 소음
보편적인 테스트 플랫폼에 대한 532~1150 nm의 넓은 커버리지
표준 70×28×26mm 패키지

이 장치는 CW 및 펄스 동작을 지원하며, 최대 20 W의 전력 처리, 산업 시험 및 과학적 측정 응용에 적합합니다.

시험 및 측정 장비 (H2) 선택 지침

테스트 정확성을 보장하기 위해 선택 중에 다음 사항을 고려하십시오.

회전 손실 ≥45 dB 및 교차 음향 ≥45 dB의 구성에 우선 순위를 부여합니다.
테스트 파장 기준으로 대역폭 (±5 nm 또는 ±10 nm) 을 확인합니다.
연결 버전은 0.3 dB IL를 추가하고, RL를 5 dB 감소시키고, ER를 2 dB 감소시킵니다.
펄스 테스트를 위해 피크 전력 및 펄스 에너지 사양을 제공

532nm/633nm 3 포트 포라라이제이션 유지 광학 순환기 TGG 섬유 증폭기 기반

CWDM Mux Demux

DWDM Mux Demux

AAWG DWDM

여과기 WDM

조밀한 CWDM 단위

광학 하락 다중화기를 추가하십시오

섬유 광학 스위치

광 스위치 장비

MEMS 광 스위치

분극화 유지 성분

높은 전원 소자

광섬유 부동태 부품

패치 케이블 시리즈

광섬유 박스

광 송수신기 모듈

광섬유 부속물

CWDM Mux Demux

DWDM Mux Demux

AAWG DWDM

여과기 WDM

조밀한 CWDM 단위

광학 하락 다중화기를 추가하십시오

섬유 광학 스위치

광 스위치 장비

MEMS 광 스위치

분극화 유지 성분

높은 전원 소자

광섬유 부동태 부품

패치 케이블 시리즈

광섬유 박스

광 송수신기 모듈

광섬유 부속물

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테스트 및 측정에서 낮은 반사 손실 해결: 높은 차단비 PM 서큘레이터로 광 경로 정확도 최적화

테스트 및 측정에서 핵심 광학 통증 지점 (H2)

높은 소멸 비율의 PM 순환기 (H2) 의 성능 기초

핵심 사양 지원 (H3)

테스트 및 측정 시스템 (H2) 에 대한 최적화 값

시험 및 측정 장비 (H2) 선택 지침

테스트 및 측정에서 낮은 반사 손실 해결: 높은 차단비 PM 서큘레이터로 광 경로 정확도 최적화

테스트 및 측정에서 낮은 반사 손실 해결: 높은 차단비 PM 서큘레이터로 광 경로 정확도 최적화

테스트 및 측정에서 핵심 광학 통증 지점 (H2)

높은 소멸 비율의 PM 순환기 (H2) 의 성능 기초

핵심 사양 지원 (H3)

테스트 및 측정 시스템 (H2) 에 대한 최적화 값

시험 및 측정 장비 (H2) 선택 지침